X射线光电子能谱仪（XPS）

样品要求：

粉末样品压片，不能测试含铋（Bi）、游离态的硫、磷、溴的样品，不稳定（易分解）、腐蚀性、磁性的样品也不能测试，含铁、钴、镍等磁性样品需消磁后方可测试。

技术参数和应用范围：

主要技术指标：

1. 能量分析范围：0-5000 eV

2. 通过能范围：1-400 eV

3. 能量分辨率：≤ 0.45 eV

4. 分析室真空度： ≤ 5×10-10 mbar

应用范围：

1. X射线光电子能谱仪主要用于用于粉末、薄膜、高分子、有机、无机等各种材料的表面几个原子层（1-10纳米厚的表面）的化学组成、价态、深度剖析及成像、功函数特性的分析与表征。

注意事项：

粉末制样注意事项：

1. 为尽快制样、尽量减少样品接触大气时间，可在制样前将所需Al箔提前剪好。
2. 制样时需要使用无粉乳胶手套。
3. 粉末样品尽量铺均匀。
4. 样品压片时压力、时间可根据样品实际情况进行设定。
   （压力建议5-10Mpa,时间建议5-10s ）
5. 样品压完片后需进行气体吹扫。
6. 容易磁化的样品在制样前要先进行去磁，并根据磁性的强弱，在测试时选择磁透镜模式和静电透镜模式。
7. 测试时尽量选择表面平滑，没有裂缝的区域。