X射线衍射仪(XRD)

样品要求：

1. 粉末样品要求：干燥、在空气中稳定，粒度均匀，粒径小于20μm，粉末样品量约需500mg。

2. 块状样品要求：测试面清洁平整，也可是板状、片状或丝状，带衬底材料的薄膜或带基材的镀层等原始形状，厚度≤0.5cm，直径≤3cm。 特殊衬底测试前请联系仪器操作员。

3. 特殊样品：极少量的微粉、非晶条带、液体样品等。微粉样品需要颗粒均匀细小，且物质性质稳定，对Si无腐蚀性。条带需要平整光滑且不能太厚。

4. 告知测试的起始角度，2θ角扫描范围须在5°～80°之间。

5. 若样品中含有Fe、Co、Ni等荧光物质，请告知。

6. 送样人需尽量提供样品中所含的元素种类

7. 易变质样品需提前与仪器操作人员联系，预约测试时间

8. 剧毒样品需特别注明。

9. 请注明样品保存条件，如常规、冷冻、干燥、冷藏、避光等。

10. 如需测小角（小于5度），请联系仪器操作员。

技术参数和应用范围：

1. 样品的物相分析（定性分析）

2. 晶粒尺寸测定、分析纳米粒度大小及粒径分布

3. 物相半定量分析

4. 薄膜物相鉴定、薄膜反射率分析

5. 测量纤维或高分子样品的物相等

6. 织构取向度分析

7. 应力分析

注意事项：

1. 使用仪器前请检查仪器状态，仪器面板上为一个绿灯一个黄灯为仪器正常待机，方可操作使用。
 

2. 使用仪器前还需检查冷水机是否正常工作，房间内是否有渗水、漏水的现象。

3. 仪器操作软件可操作部分仅为软件右下部分，可改变测试角度（测量范围5-80度，不可超出此范围）、时间间隔、扫描速度，其它参数均不可更改。

4. 测试过程中，纵坐标强度若超过10000，请立即停止扫描，并联系仪器管理员。

5. 若使用仪器超出预约时间5min，或预约时段内仪器待机超过10min未使用，将视为使用仪器超时或浪费仪器机时，将按照未遵守仪器使用规定处理。

6. 拷贝数据仅可用光盘刻录操作。因扫描电镜系统为xp系统，已刻录过该数据的光盘在此机器不可使用。

7. 使用仪器时进出需关好门，保持室内干燥，并保持除湿机正常工作。

8. 仪器使用过程中需保持房间整洁干净，每轮使用该仪器的最后两位同学需擦桌子及拖地。

9. 如有出现异常，请立即联系仪器管理员。

如有未遵守上述使用规定，将停止该课题组预约使用该仪器一轮，如有出现两次，将取消该课题组本学期使用该仪器的权利。